Министерство промышленности и торговли Российской Федерации.

 

 

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ

Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума

 

 

 

 

Общая
информация

Аккредитация

Продукция

ЦКП НИЦПВ

Техничес­кие комитеты по стандартизации

Федеральные целевые программы

Национальные и межгосударственные стандарты

Закупки

Экологическая ответственность

Новости

Сотрудники

Публикации

Контакты

Прейскурант

 


Публикации НИЦПВ

АСМ_поверка.pdf

Мера_общие_требов.pdf

Мера_поверка.pdf

РЭМ_поверка.pdf

 

Публикации  2011-2012

 

  1. V.P. Gavrilenko, E. Oks, “Nonexistence of a “local suppression” in the ionization of hydrogen atoms by a low-frequency laser field of arbitrary strength”, Canadian Journal of Physics, v. 89, 849-855 (2011).
  2. M.N. Filippov, V.P. Gavrilenko, M.V. Kovalchuk, V.B. Mityukhlyaev, Yu.V. Ozerin, A.V. Rakov, V.V. Roddatis, P.A. Todua, V.L. Vasiliev, “Reference material for transmission electron microscope calibration”, Measurement Science and Technology,

      v. 22 (2011), 094014 (5 pp.)

  1. V.P. Gavrilenko, P.A. Todua, “Dimensional Metrology of Low-Dimension Systems”, In: Graphene 2012 International Conference (Brussels, Belgium, April 10-13, 2012), Book of abstracts of presentations of the members of delegation of the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, pp. 82-84.
  2. P.A. Todua, V.P. Gavrilenko, “Nanometrology and Standardization for Nanotechnologies”, In: Graphene 2012 International Conference (Brussels, Belgium, April 10-13, 2012), Book of abstracts of presentations of the members of delegation of the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, pp. 86-88.
  3. П.А. Тодуа, В.П. Гавриленко, “Нанометрология –ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий”, 5-я Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии» (Черноголовка, Московская область, 4-7 июня 2012 г.), Сб. тезисов, стр. 17.
  4. M.N. Filippov, V.P. Gavrilenko, M.V. Kovalchuk, V.B. Mityukhlyaev, A.V. Rakov,  P.A. Todua, V.L. Vasiliev, “New reference material for transmission electron microscope calibration”, SPIE Proceedings, v. 8466, paper 8466-11 (7 pages).

 

Участие  в конференциях

 

  1. Доклад: “Metrology and Standards for Nanotechnologies”. Доклад представлен на: Humboldt Colloquium “The Role of Fundamental Sciences in Society” (Moscow, Russia, 31 May – 2 June 2012) – on Occasion of the German-Russian Year of Science 2011/2012 and the Germany Year in Russia / Russia Year in Germany 2012/2013.

 

  1. Доклад: “Нанометрология –ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий”. Доклад представлен на: 5-й Школе «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии» (Черноголовка, Московская область, 4-7 июня 2012 г.).

 

  1. Доклад “Dimensional Metrology of Low-Dimension Systems”. Доклад представлен на: II Международном форуме  Graphene 2012” (Brussels, Belgium, April 10-13, 2012).

 

  1. Доклад “Nanometrology and Standardization for Nanotechnologies”. Доклад представлен на: II Международном форуме  Graphene 2012” (Brussels, Belgium, April 10-13, 2012).

 

Размерная метрология низкоразмерных систем


Публикации НИЦПВ, посвященные размерной метрологии низкоразмерных систем

 

  1. V.P. Gavrilenko, Yu.A. Novikov, A.V. Rakov, P.A. Todua, “Metrology and standardization for nanotechnologies”, In: Intern. Conf. “Electron Microscopy and Multiscale Modeling”, Russia, 2007, Proceeding of the EMMM-2007 Intern. Conf., American Institute of Physics, pp. 286-297 (2008).

  2. V.P.Gavrilenko, V.B.Mityuhlyaev, Yu.A.Novikov, Yu.V.Ozerin,  A.V.Rakov, P.A. Todua, “Test object of the linewidth with a trapezoidal profile and three certified sizes for an SEM and AFM”, Measurement Science and Technology, vol. 20, pp. 084022-1 – 084022-7 (2009).
  1. V.P. Gavrilenko, Yu.A.Novikov, A.V.Rakov, P.A. Todua, “Nanoscale dimensional metrology in Russia”, In: Proceedings of SPIE, vol. 7405, pp. 740504-1 – 740504-8 (2009).

  2. V.P. Gavrilenko, M.N.Filippov, Yu.A.Novikov, A.V.Rakov, P.A. Todua, “Russian Standards for Dimensional Measurements for Nanotechnologies”, In: Proceedings of SPIE, vol. 7378, pp. 737812-1 – 737812-8 (2009).

  3. M.N.Filippov, V.P.Gavrilenko, M.V.Kovalchuk, V.B.Mityukhlyaev, Yu.V.Ozerin, A.V.Rakov, V.V.Roddatis, P.A. Todua, A.L.Vasiliev, “Reference material for transmission electron microscope calibration”, Measurement Science and Technology, vol. 22, pp.094014-1 – 094014-5 (2011).

Страничка находится на стадии разработки, приносим свои извинения за возможные сбои и неудобства.