Градуировка, поверка и калибровка просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), исследования и контроля метрологических характеристик ПЭМ при проведении их испытаний в целях утверждения типа.
Применяется в микро-, наноэлектронике, нанотехнологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурированных материалов, оснащении органов государственных и метрологических служб.
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных