Научно-исследовательский центр
по изучению свойств поверхности и вакуума

СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП SOLVER P47

ОБОРУДОВАНИЕ

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии.

Основные технические характеристики

  • Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
  • Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.
  • Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.
  • Производитель ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

ЗАЯВКА НА СОТРУДНИЧЕСТВО

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных

ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных