Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) JEM-2100

Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.

Основные технические характеристики

Разрешающая способность микроскопа: - по точкам, нм

0,23

Разрешающая способность микроскопа: - по линиям, нм

0,14

Диапазон регулировки увеличения, крат

50¸1500000

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ

80¸200

Диапазон измерений линейных размеров, мкм

0,003-50

Погрешность измерений линейных размеров не более, %

Производитель

JEOL, Япония

Получить консультацию