Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции.
Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», вы соглашаетесь с условиями обработки персональных данных